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報告書

K-X線放射断面積の評価と高温プラズマ中の金属不純物密度計測への応用

的場 徹; 熊谷 勝昭; 船橋 昭昌; 河上 知秀

JAERI-M 7196, 20 Pages, 1977/07

JAERI-M-7196.pdf:0.68MB

高温プラズマ中の金属不純物からの電子衝突によるK-X線放射断面積のエネルキー依存性を、原子番号が6から82の範囲で3種の方法により計算した。電子のエネルギーが500KeVまでは相対論的理論(A&M理論)による断面積の計算値が実験値と良い一致を示した。これらの結果からK-X線放出率の電子温度依存性を求めた。金属不純物毒が半導体検出器による軟X線スペクトルの絶対測定値からK-X線放出率を使用して導出できることを示した。

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